ÚFI/Výzkum/Odbor fyziky povrchů a nanostruktur/Vyvinutý software     

Software vyvinutý v našem odboru

Rok 2009

Software IonProfile

Software IonProfile je soubor programů umožňující řízení hloubkových profiloměrů SIMS, TOF-LEIS a XPS. Jsou zde zahrnuty programy pro zpracování a simulace měřených dat metodou TOF-LEIS. Konkrétně se jedná o programy IonImage, LeisInt, TrimImp a program TRBS Setup.

Více o programu  IonProfile

Pluginy programu EOD

Více informací o pluginech Emission a Collisions programu EOD .